产品特点 

• 人工智能缺陷检测

• 双轨道

• 单轨标准产率60-80颗/s
  

• 双轨高产率120-160颗/s

• 同时检测芯片的正面和背面

• 人工智能AI深度学习芯片的缺陷样本力量

产品介绍

  散芯粒分选机S60使用震动盘上料，每秒可上料60-80颗，设备检测速度快，产率高，设备稳定。

  我们公司已经收集了海量芯片检测的样本，缺陷检测模型使用人工智能深度学习进行样本培训。S60可以根据客户的具体要求产生多种缺陷检测模型。

  客户决定使用我们的AOI设备后，公司提供缺陷样本采集，标注，和模型培训服务，直到客户满意缺陷识别模型的效果。

  S60同时检测芯片的正、反面，检测结果准确率高，性能稳定。