晶圆点测-划片一体机

半导体晶圆检测、切割、裂片和分选解决方案
型号:
上架时间:2021-03-29
浏览次数:7754
产品详情

我们为客户打造了一套完整的半导体晶圆点测、切割、裂片和分选的解决方案。SemiLase-D提供对二极管芯片电性能的测量;SemiLase-Q对芯片晶圆进行激光切割;SemiLase-B对芯片进行裂片和分选。以上的设备还配置了自动化上下料功能。

上一篇:晶圆划片设备

下一篇:高效柔性薄膜电池激光加工设备